- Mengadopsi dua metode pengukuran: induksi magnetis (F) dan arus eddy (N). Ketika probe F dilengkapi, ia dapat mengukur lapisan non-magnetik pada substrat magnet, ketika probe N dilengkapi, ia dapat mengukur lapisan non-konduksi pada substrat non-magnetisme.
- 6 jenis probe tersedia untuk berbagai aplikasi: F400, F1, F1 / 90, F10, N1, CN02
- Dua mode pengukuran: lanjutkan / lajang
- Dua mode kerja: mode langsung (DITECT) dan Batch mode (APPL)
- 5 cara statistik: Nilai rata-rata / nilai Max.value / Min.value / Testing (Tidak.) / Standar deviasi (S.Dev)
- Dua mode pengukuran kalibrasi
- Dengan layar lampu latar
- 640 nilai terukur dapat disimpan
- Terintegrasi dengan printer
- Indikasi baterai rendah
- 2 mode mematikan : manual dan auto
Tipe Probe
|
F
|
N
|
|
Metode pengukuran
|
Induksi magnet
|
eddy current
|
|
Rentang Prngukuran
|
0 ~1250 μm
|
0 ~1250 μm, 0 - 40μm (untuk
pelat krom pada tembaga)
|
|
Resolusi minimal
|
0.1μm
|
||
Toleransi
|
Kalibrasi titik nol
|
±(3%H+1)μm
|
± (3%H+1.5)μm
|
H berarti ketebalan potongan yang diuji
|
|||
Kalibrasi dua titik
|
±[(1~3)%H+1]μm
|
±[(1~3)%H+1.5]μm
|
|
H berarti ketebalan potongan yang diuji
|
|||
Kondisi pengukuran
|
Jari-jari kelengkungan minimal (mm)
|
konvesksitas 1.5
|
konveksitas 3
|
Diameter area uji minimal (mm)
|
Ø7
|
Ø5
|
|
Ketebalan kritis substrat(mm)
|
0.5
|
0.3
|
|
Standar
|
DIN,ISO,ASTM,BS
|
||
Kalibrasi
|
Kalibrasi nol dan foil
|
||
Interface
|
RS232
|
||
Statistik
|
Jumlah pengukuran, mean, standar
deviasi, maksimum dan minimum
|
||
Data memory
|
640 bacaan
|
||
Limits
|
Dapat disesuaikan dengan alarm
|
||
Daya
|
Baterai isi ulang NiMH
|
||
Lingkup Pengoperasian
|
Suhu : 0~40℃
|
||
Kelembaban: 20%~90%
|
|||
Tidak ada medan magnet yang kuat
|
|||
Dimensi (mm)
|
230×86×47
|
||
Model Probe
|
F400
|
F1
|
F1/90º
|
F10
|
N1
|
CN02
|
|
Prinsip Pengoperasian
|
Induksi Magnet
|
Eddy current
|
|||||
Rentang Pengukuran (µm)
|
0-400
|
0-1250
|
0-10000
|
0 to 1250 μm
0 to 40μm (untuk plat krom pada tembaga) |
10~200
|
||
Resolusi rendah (µm)
|
0.1
|
0.1
|
10
|
0.1
|
1
|
||
Akurasi
|
Kalibrasi satu titik (µm)
|
±(3%H+1)
|
±(3%H+10)
|
±(3%H+1.5)
|
±(3%H+1)
|
||
Kalibrasi dua titik (µm)
|
±[(1~3)H%+0.7]
|
±[(1~3)H%+1]
|
±[(1~3)%H+10]
|
±[(1~3)%H+1.5]
|
-
|
||
Kondisi Pengukuran
|
Kelengkungan area minimal (mm)
|
Convex 1
|
1.5
|
Flatten
|
10
|
3
|
Flatten
|
Diameter area minimal (mm)
|
φ3
|
φ7
|
φ7
|
φ40
|
φ5
|
φ7
|
|
Ketebalan kritis subtrat (mm)
|
0.2
|
0.5
|
0.5
|
2
|
0.3
|
Tak terbatas
|
|